DX-H302I電子電器外殼紫外老化試驗箱
電子電器外殼紫外老化試驗箱是一種專門用于模擬電子電器外殼在長時間暴露于紫外線、溫濕度變化等環境因素下的老化過程的測試設備。通過加速紫外線照射、溫濕度循環等環境條件,試驗箱可以有效模擬電子產品外殼在實際使用中的老化情況,幫助評估其耐紫外線、耐候性、外觀變化(如褪色、變脆)以及機械性能的衰退。
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更新日期
2025-11-05 - 02
廠商性質
生產廠家 - 03
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