DR-H203-2Q模塊芯片冷熱循環沖擊試驗箱
模塊芯片冷熱循環沖擊試驗箱是一種專門設計用于測試電子模塊、芯片及其組件在溫度變化和冷熱沖擊環境下的可靠性和耐久性的實驗設備。隨著電子產品向更高性能、更小體積發展,電子模塊和芯片在各種工作條件下的可靠性變得尤為重要,因此需要進行冷熱循環沖擊試驗,以確保其在實際應用中能穩定工作。
- 01
更新日期
2025-11-07 - 02
廠商性質
生產廠家 - 03
瀏覽量
748
歡迎來到東莞市德祥儀器有限公司!
13650315209
產品分類 / PRODUCT
相關文章 / ARTICLE
2024-06-07
2025-06-30
2025-09-12
2025-08-11
2023-09-26
更新日期
2025-11-07廠商性質
生產廠家瀏覽量
748
更新日期
2025-11-07廠商性質
生產廠家瀏覽量
778
更新日期
2025-11-07廠商性質
生產廠家瀏覽量
759
更新日期
2025-11-07廠商性質
生產廠家瀏覽量
676
更新日期
2025-11-07廠商性質
生產廠家瀏覽量
690